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發(fā)表于:2019-10-15
作者:科翔信息
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專利申請(qǐng)?zhí)?/span>:
CN201210537050.4
專利類型:
發(fā)明
IPC 分類號(hào):
C08G81/02 B01J13/02
應(yīng)用領(lǐng)域:
納米膠囊
摘要:
本發(fā)明提供一種基于絕緣硅(SOI)和電鑄技術(shù)的金屬納米線陣及其 制備方法,該金屬納米線陣的各金屬線之間由摻雜硅介質(zhì)材料填充, 其制備流程包括:選取SOI,并在其上下表面各沉積一層氮化硅薄膜;采用光刻及干法刻蝕,在 SOI 下底面氮化硅膜層上制作一個(gè)開口,露出體硅表面;采用氫氧化鉀濕法腐蝕,以氮化硅為掩蔽層將露出的體硅表面腐蝕完畢,露出二氧化硅表面;在 SOI 的上表面涂覆光刻膠,通過光刻和刻蝕制作納米通孔;將具有納米通孔的 SOI 器件電鑄,獲得摻雜硅包裹的金屬線條;采用干法刻蝕將氮化硅去除,并用氫氟酸溶液去除二氧化硅,完成金屬納米線陣的制備。本發(fā)明不易損傷,且采用SOI 片進(jìn)行制作,避免了摻雜不均、摻雜層厚度難控制等缺點(diǎn)。
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