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CN201110207453.8

專利類型:

發(fā)明

IPC 分類號:   

G06F11/36

應(yīng)用領(lǐng)域:  

斷點調(diào)試裝置。

現(xiàn)有技術(shù)缺點:  

在調(diào)試器處理繁瑣的條件斷點表達式時執(zhí)行效率低下 。

技術(shù)優(yōu)勢:

能夠解決了在調(diào)試器處理繁瑣的條件斷點表達式時所遇到的執(zhí)行效率低下問題，從而大幅提升調(diào)試器的執(zhí)行效率。

摘要:   

本發(fā)明涉及一種斷點調(diào)試方法和調(diào)試器。所述斷點調(diào)試方法包括以下步驟：接收調(diào)試中的斷點信息；將所述斷點信息組合成斷點函數(shù)并輸出；加載動態(tài)鏈接庫，所述動態(tài)鏈接庫由所述斷點函數(shù)進行編譯生成。所述調(diào)試器包括：接收單元，用于接收調(diào)試中的斷點信息； 輸出單元，用于將所述斷點信息組合成斷點函數(shù)并輸出；加載單元， 用于加載動態(tài)鏈接庫。根據(jù)本發(fā)明的調(diào)試方法和調(diào)試器，可以大幅提升調(diào)試器的執(zhí)行效率。

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